PR1251693-2270-WVGV OFFEN

SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W

Ausschreibende Stelle
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Leistungsort
Regensburg, Kreisfreie Stadt
Angebotsfrist
07. September 2026, 08:00 in 14 Tagen
Leistung
CPV 31000000
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Projektbeschreibung

SOC-Testsystem

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Energie & Versorgung Regensburg, Kreisfreie Stadt Öffentliche Auftraggeber

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Lose

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Los Leistung Ausführung
LOT-0000 SOC-Testsystem - PR1251693-2270-W This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft.

Vergabeunterlagen

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Verfahren

Verfahrensart
VGV
Veröffentlicht
06. August 2026
Angebotsfrist
07. September 2026, 08:00

Vergabestelle

Stelle
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Kontakt
einkauf@zv.fraunhofer.de
Original
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