PR1252431-2270-WVGV OFFEN

Waferprober / Frameprober - PR1252431-2270-W

Ausschreibende Stelle
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Leistungsort
Regensburg, Kreisfreie Stadt
Angebotsfrist
07. September 2026, 08:00 in 13 Tagen
Leistung
CPV 31000000
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Projektbeschreibung

Waferprober / Frameprober

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Lose

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Los Leistung Ausführung
LOT-0000 Waferprober / Frameprober - PR1252431-2270-W This specification describes the requirements for a wafer prober system to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The wafer prober system must be able to handle 200mm and 300mm wafers and in addition wafers mounted on a dicing frame (frame prober function). This allows a very flexible usage for different analysis and test situations. The wafer prober will be coupled with an automated test system (ATE).

Vergabeunterlagen

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Verfahren

Verfahrensart
VGV
Veröffentlicht
06. August 2026
Angebotsfrist
07. September 2026, 08:00

Vergabestelle

Stelle
Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12
Kontakt
einkauf@zv.fraunhofer.de
Original
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