IHP-2026-041VGV OFFEN
Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers
- Ausschreibende Stelle
- IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Leistungsort
- Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt
- Angebotsfrist
- 31. August 2026, 10:00 in 7 Tagen
- Leistung
- CPV 38000000
- Original
- Bekanntmachung öffnen
Projektbeschreibung
Beschaffung eines halbautomatischen Wafer-Probersystems einschließlich eines integrierten Charakterisierungssystems zur elektrischen Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Der Leistungsumfang umfasst die Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie die Einweisung des Bedienpersonals.
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Pharma & Labor Maschinen, Industrieanlagen & Wartung Frankfurt (Oder), Kreisfreie Stadt Öffentliche Auftraggeber
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Lose
Die Ausschreibung ist in 1 Lose aufgeteilt; Angebote sind je Los oder für mehrere Lose zulässig.
| Los | Leistung | Ausführung |
|---|---|---|
| LOT-0001 | Semi Automatic Prober for characterization of 200 mm Wafers Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines betriebsbereiten halbautomatischen Wafer-Probersystems mit integriertem Charakterisierungssystem. Das Gesamtsystem muss für DC-I/V-, C-V-, C-f-, C-t- sowie Niederfrequenz-Impedanzmessungen bis 10 MHz geeignet sein und als vollständig integrierte Einheit geliefert, installiert, in Betrieb genommen und einschließlich einer Anwenderschulung übergeben werden. Sämtliche Schnittstellen zwischen den Systemkomponenten sind durch den Auftragnehmer sicherzustellen. | — |
Vergabeunterlagen
Verfahren
- Verfahrensart
- VGV
- Veröffentlicht
- 28. Juli 2026
- Fragefrist
- 24. August 2026
- Angebotsfrist
- 31. August 2026, 10:00
Vergabestelle
- Stelle
- IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Kontakt
- vergabestelle@ihp-microelectronics.com
- Original
- Bekanntmachung auf dem Vergabeportal öffnen
Alle Angaben ohne Gewähr. Maßgeblich ist die Originalbekanntmachung der Vergabestelle.